Перегляд за автором "Пугачев, А.Т."

Сортувати за: Порядок: Результатів:

  • Влияние концентрации примеси на соотношение интенсивностей рентгеновских отражений от кристаллов металлофуллеренов 
    Дроздов, А.Н.; Вус, А.С.; Пуха, В.Е.; Пугачев, А.Т. (2009)
    В работе приведены результаты исследования особенностей формирования дифракционных картин кристаллами легированных фуллеритов. Установлены закономерности изменения соотношений интенсивностей дифракционных пиков при заполнении ...
  • Низкотемпературная люминесценция тонких пленок C₆₀ различной структуры 
    Авдеенко, А.А.; Еременко, В.В.; Зиновьев, П.В.; Силаева, Н.Б.; Тиунов, Ю.А.; Горбенко, Н.И.; Пугачев, А.Т.; Чуракова, Н.П. (Физика низких температур, 1999)
    Приводятся результаты исследования низкотемпературной (5 К) фотолюминесценции тонких пленок фуллерита C₆₀ различных структур, полученных на монокристаллических подложках NaCl вакуумным осаждением при температурах в интервале ...
  • Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀ 
    Пугачев, А.Т.; Чуракова, Н.П.; Горбенко, Н.И. (Физика низких температур, 1997)
    Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки Δа/а монокристаллических пленок фуллерита C₆₀ толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина Δа/а увеличивается ...
  • Рентгенографический анализ периодических пленочных композиций W/Si 
    Решетняк, Е.Н.; Малыхин, С.В.; Першин, Ю.П.; Пугачев, А.Т. (Вопросы атомной науки и техники, 2003)
    Методом рентгеновской дифрактометрии исследована структура пленок вольфрама и многослойных периодических W/Si-композиций, полученных методом магнетронного распыления. Показано, что химический и фазовый составы вольфрамовых ...
  • Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ 
    Пугачев, А.Т.; Чуракова, Н.П.; Горбенко, Н.И.; Саадли, Х.; Солодовник, А.А. (Физика низких температур, 1999)
    В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи ...
  • Структура и прочность композиционной керамики TiB₂–CrB₂ И TiB₂–W₂B₅, полученной методом горячего прессования 
    Гладких, Л.И.; Григорьев, О.Н.; Соболь, О.В.; Пугачев, А.Т.; Соболь, Е.А.; Мартынюк, С.В. (Вопросы атомной науки и техники, 2002)
    У роботі проведене дослідження структури композиційної кераміки TiB₂-CrB₂ , TiB₂-W₂B₅ і проаналізован зв'язок структури з твердістю та міцністю. Встановлено, що: 1) у квазібінарних системах Ti₂-W₂B₅ і TiB₂-CrB₂, при утворенні ...
  • Структура тонких пленок С₆₀ на (100) NaCl 
    Горбенко, Н.И.; Пугачев, А.Т.; Саадли, Х.; Чуракова, Н.П. (Вопросы атомной науки и техники, 2002)
    Электронно-микроскопическими методами исследована структура пленок фуллерита С₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность кристаллов (100) NaCl, находящихся при Т = 240 К. При комнатной температуре пленки имели ГЦК-решетку ...
  • Эволюция напряженного состояния и структуры поверхности трения подшипника 
    Зозуля, В.Л.; Исаков, Д.И.; Колупаева, З.И.; Пугачев, А.Т.; Суровицкий, С.В. (Физическая инженерия поверхности, 2015)
    Исследованы изменения напряженного состояния и структуры поверхности трения обоймы упорного роликового подшипника, изготовленного из стали с содержанием С 0,95–1,05, Mn 0,20–0,40, Si 0,17–0,37, Cr 1,3–1,65, a S, P, Ni, Cu ...
  • Электрическое сопротивление объемного аморфного сплава Zr₄₁,₂Be₂₂,₅Ti₁₃,₈Cu₁₂,₅Ni₁₀ и его поликристаллического аналога 
    Васильев, А.А.; Ковтун, К.В.; Малыхин, С.В.; Мерисов, Б.А.; Пугачев, А.Т.; Трембач, О.В.; Хаджай, Г.Я. (Физика низких температур, 2009)
    Электрическое сопротивление объемного аморфного сплава Zr₄₁,₂Be₂₂,₅Ti₁₃,₈Cu₁₂,₅Ni₁₀ и поликристалла того же состава измерено в интервале 1,5-300 К. Полученные температурные зависимости аппроксимированы в рамках моделей ...